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三槽式高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱，用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè),國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、 半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化。

三槽式溫度沖擊試驗(yàn)箱，用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

二槽式溫度沖擊箱，用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)高溫、低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度的儀器設(shè)備。

LED溫度沖擊測(cè)試箱，是以待測(cè)物品不動(dòng)之方式來(lái)測(cè)試因高低溫急速變化而對(duì)產(chǎn)品是否造成不良的影響。一般用于電子部品、汽車零件及高科技產(chǎn)品等；需要環(huán)境條件測(cè)試及高信耐性需求的檢驗(yàn)。

高溫低溫沖擊設(shè)備，由高溫蓄熱箱,低溫蓄冷箱和產(chǎn)品測(cè)試箱三箱式全并而成,試驗(yàn)時(shí)待試驗(yàn)的產(chǎn)品擺放于測(cè)試箱隔層架內(nèi),通過(guò)風(fēng)門切換達(dá)到迅速完成高溫、低溫交變。

溫度循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱，為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、試驗(yàn)樣品在高溫和低溫下的保持時(shí)間、以及試驗(yàn)的循環(huán)次數(shù)等因素。

兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)，采用獨(dú)立槽區(qū)風(fēng)路切換方式可將低溫槽、高溫槽的冷熱量或者室溫空氣導(dǎo)入測(cè)試槽，使測(cè)試槽的試驗(yàn)樣品能夠在低溫、高溫、室溫環(huán)境之間快速轉(zhuǎn)換，試驗(yàn)過(guò)程試驗(yàn)樣品不移動(dòng)。

三槽式冷熱溫度沖擊箱，用來(lái)考核產(chǎn)品(整機(jī))、元器件、零部件等經(jīng)受溫度急劇變化的能力。

高低溫交變沖擊試驗(yàn)箱，考核和確定電工、電子、汽車電器、材料等產(chǎn)品，在進(jìn)行高低溫試驗(yàn)的溫度環(huán)境沖擊變化后的參數(shù)及性能。

可編程冷熱交換沖擊試驗(yàn)箱，根據(jù)試驗(yàn)需求及測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)分為三箱式和兩箱式，用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度。

箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱，試驗(yàn)箱分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部份，各區(qū)箱體采用*的隔熱結(jié)構(gòu)，測(cè)試時(shí)可選擇二槽（兩箱法）或三槽（三箱法）沖擊試驗(yàn)。

智能程控冷熱沖擊試驗(yàn)箱，金屬、塑料、橡膠、電子等材料在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)或物理傷害。